介電常數介質(zhì)損耗測試儀參數介紹

介電常數介質(zhì)損耗測試儀參數介紹

中航鼎力介電常數測定儀, LJD-C介電常數測試儀簡(jiǎn)介 滿(mǎn)足標準：GBT 1409-2006 測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長(cháng)在內）下電容率和介質(zhì)損耗因數的推薦方法高頻介質(zhì)損耗測試系統由S916測試裝置（夾具）、GDAT型高頻Q表、數據采集和tanδ自動(dòng)測量控件（裝入GDAT）、及LKI-1型電感器組成，它依據國標GB/T 1409-2006、美標ASTM D150以及電工委員會(huì )IEC60250的規定設計制作。系統提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值（tanδ）和介電常數（ε）自動(dòng)測量的解決方案。

參數指標

^{附表一,介質(zhì)損耗測試系統主要性能參數一覽表}

^{S916測試裝置                           介電常數測試儀高頻Q表}

^{介電常數測試儀附表二,LKI-1電感組典型測試數據}

^{介電常數介質(zhì)損耗（介質(zhì)損耗角）測試儀 
 
型號：LJD-C}

^{一.介電常數測試儀主要特點(diǎn)：
空洞共振腔適用于CCL/印刷線(xiàn)路板，薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。 印電路板主要由玻纖與環(huán)氧樹(shù)脂組成的, 玻纖介電常數為5~6, 樹(shù)脂大約是3, 由于樹(shù)脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會(huì )造成介電特性的偏差, 傳統測量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品（ 小于 10 mil） 量測值偏低,。} 

^{二.介電常數測試儀主要技術(shù)特性：
介質(zhì)損耗和介電常數是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復合材料等的一項重要的物理性質(zhì)，通過(guò)測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數（ε），可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數的各種因素，為提高材料的性能提供依據；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制，測量核心采用了頻率數字鎖定，標準頻率測試點(diǎn)自動(dòng)設定，諧振點(diǎn)自動(dòng)搜索，Q值量程自動(dòng)轉換，數值顯示等新技術(shù)，改進(jìn)了調諧回路，使得調諧測試回路的殘余電感減至低，并保留了原Q表中自動(dòng)穩幅等技術(shù)，使得新儀器在使用時(shí)更為方便，測量值更為。儀器能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線(xiàn)的特性阻抗等。}

^{三.介電常數測試儀儀器技術(shù)指標：
☆Q值測量：
a．Q值測量范圍：2～1023。              b．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔。
c．標稱(chēng)誤差}