介電損耗測定機作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前國內Z高的160MHz.LJD-C介電常數測試儀采用了多項*技術(shù)： 雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動(dòng)調諧搜索功能。 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過(guò)數字按鍵輸入。 雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧，數碼化電容調諧。

介電損耗測量?jì)x作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前國內Z高的160MHz.LJD-C介電常數測試儀采用了多項*技術(shù)： 雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動(dòng)調諧搜索功能。 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過(guò)數字按鍵輸入。 雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧，數碼化電容調諧。

介電損耗測定儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前國內Z高的160MHz.LJD-C介電常數測試儀采用了多項*技術(shù)： 雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動(dòng)調諧搜索功能。 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過(guò)數字按鍵輸入。 雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧，數碼化電容調諧。

介電損耗測試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前國內Z高的160MHz.LJD-C介電常數測試儀采用了多項*技術(shù)： 雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動(dòng)調諧搜索功能。 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過(guò)數字按鍵輸入。 雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧，數碼化電容調諧。

介質(zhì)損耗測定機作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前國內Z高的160MHz.LJD-C介電常數測試儀采用了多項*技術(shù)： 雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動(dòng)調諧搜索功能。 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過(guò)數字按鍵輸入。 雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧，數碼化電容調諧。

介質(zhì)損耗試驗機作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前國內Z高的160MHz.LJD-C介電常數測試儀采用了多項*技術(shù)： 雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動(dòng)調諧搜索功能。 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過(guò)數字按鍵輸入。 雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧，數碼化電容調諧。

介質(zhì)損耗試驗儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前國內Z高的160MHz.LJD-C介電常數測試儀采用了多項*技術(shù)： 雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動(dòng)調諧搜索功能。 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過(guò)數字按鍵輸入。 雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧，數碼化電容調諧。

介質(zhì)損耗測量?jì)x作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前國內Z高的160MHz.LJD-C介電常數測試儀采用了多項*技術(shù)： 雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動(dòng)調諧搜索功能。 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過(guò)數字按鍵輸入。 雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧，數碼化電容調諧。