絕緣電阻率測定儀

LST-121表面電阻率測試儀

壹、  絕緣電阻率測定儀符合標準及適用范圍：

    符合國家標準GB1410－2006固體電工絕緣材料絕緣電阻、體積電阻系數和表面電阻試驗方法，ASTM D257 絕緣材料的直流電阻或電導試驗方法 等標準要求。本儀器配不同的測量電極（夾具）可以測量不同材料（固體、粉體或液體）的體積電阻率和表面電阻率或電導率。適用于橡膠、塑料、薄膜、及粉體、液體、及固體和膏體形狀的各種絕緣材料體積和表面電阻值的測定。本儀器除能測電阻外，還能直接測量微弱電流。

二、表面電阻率測試儀技術(shù)指標

三、絕緣電阻率測定儀工作原理

    根據歐姆定律，被測電阻Rx等于施加電壓V除以通過(guò)的電流I。傳統的高阻計的工作原理是測量電壓V固定，通過(guò)測量流過(guò)取樣電阻的電流I來(lái)得到電阻值。從歐姆定律可以看出，由于電流I是與電阻成反比，而不是成正比，所以電阻的顯示值是非線(xiàn)性的，即電阻無(wú)窮大時(shí)，電流為零，即表頭的零位處是∞，其附近的刻度非常密，分辨率很低。整個(gè)刻度是非線(xiàn)性的。又由于測量不同的電阻時(shí)，其電壓V也會(huì )有些變化，所以普通的高阻計是精度差、分辨率低。
    本臺電阻率測試儀是同時(shí)測出電阻兩端的電壓V和流過(guò)電阻的電流I，通過(guò)內部的大規模集成電路完成電壓除以電流的計算，然后把所得到的結果經(jīng)過(guò)A/D轉換后以數字顯示出電阻值，即便是電阻兩端的電壓V和流過(guò)電阻的電流I是同時(shí)變化，其顯示的電阻值不象普通高阻計那樣因被測電壓V的變化或電流Ｉ的變化而變，所以，即使測量電壓、被測量電阻、電源電壓等發(fā)生變化對其結果影響不大，其測量精度很高()，從理論上講其誤差可以做到零，而實(shí)際誤差可以做到千分之幾或萬(wàn)分之幾。

四、表面電阻率測試儀典型應用

1、測量絕緣材料電阻(率)
2、測量防靜電材料的電阻及電阻率
3、測量計算機房用活動(dòng)地板的系統電阻值
4、測量防靜電鞋、導電鞋的電阻值
5、光電二極管暗電流測量
6、物理,光學(xué)和材料研究

電阻率測試儀標準配置：

表面電阻率測試儀使用注意事項     

★高阻測量一定要嚴格按使用方法步聚進(jìn)行，否則有可能造成儀器*損壞或電人。 
7.1 應在“Rx"兩端開(kāi)路時(shí)調零（主機開(kāi)機）
如接在電阻箱或被測量物體上時(shí)調零后測量會(huì )產(chǎn)生很大的誤差。一般一次調零后在測試過(guò)程中不需再調零，但改變測量電壓后可能要重新調零。 
7.2 禁止將“Rx"兩端短路，以免微電流放大器受大電流沖擊
7.3 在測試過(guò)程中不要隨意改動(dòng)測量電壓， 
★隨意改動(dòng)測量電壓可能因電壓的過(guò)高或電流過(guò)大損壞被測試器件或測試儀器，而且有的材料是非線(xiàn)性的，即電壓與電流是不符合歐姆定律，有改變電壓時(shí)由于電流不是線(xiàn)性變化，所以測量的電阻也會(huì )變化。 
7.4 測量時(shí)從低次檔逐漸拔往高次檔 
★每撥一次稍停留1～2秒以便觀(guān)察顯示數字，當有顯示值時(shí)應停下，記錄當前的數字即是被測電阻值。若顯示“1"時(shí)，表示欠量程應往高次檔拔。直到有顯示數字時(shí)為止。當有顯示數字時(shí)不能再往高次檔撥，否則有可能損壞儀器(機內有過(guò)電流保護電路)。除104 Ω檔之外，當顯示低于1.99，表示過(guò)量程應換低檔! 
7.5 大部分絕緣材料，特別是防靜電材料的電阻值在加電壓后會(huì )有一定變化而引起數字變化 
★由于本儀器的分辯率很高，因而會(huì )引起顯示值的末尾幾位數也變化，這不是儀器本身的問(wèn)題，而是被測量對象的導電機理復雜而使得阻值有些變化。在這種情況下往往取2位有效數就夠了。 
7.6 接通電源后，手指不能觸及高壓線(xiàn)的金屬部分 
★本儀表有二連根線(xiàn):高壓線(xiàn)(紅)和微電流測試線(xiàn)。在使用時(shí)要注意高壓線(xiàn)，開(kāi)機后人不能觸及高壓線(xiàn)，。 
7.7 測試過(guò)程中不能觸摸微電流測試端 
★微電流測試端zui怕受到大電流或人體感應電壓及靜電的沖擊。所以在開(kāi)機后和測試過(guò)程中不能與微電流測試端接觸，以免損壞儀表。 
7.8 在測量高阻時(shí)，應采用屏蔽盒將被測物體屏蔽. 
★在測量大于1010 Ω以上時(shí)，為防止外界干擾面而引起讀數不穩。 
7.9 每次測量完時(shí)應將量程開(kāi)關(guān)撥回“104 "檔再進(jìn)行下次測試