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簡(jiǎn)要描述：四探針?lè )阶桦娮杪蕼y試儀采用范德堡測量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差，提供通訊接口，PC軟件數據處理及數據分析.中文或英文語(yǔ)言版本.硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）及國標設計制造；GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針?lè )ā?
產(chǎn)品型號：廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家更新時(shí)間：2024-07-01訪(fǎng) 問(wèn) 量：1501產(chǎn)品分類(lèi)
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| 品牌 | 中航鼎力 | 電源 | 220v |
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四探針?lè )阶桦娮杪蕼y試儀儀描述：
采用范德堡測量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差，提供通訊接口，PC軟件數據處理及數據分析.中文或英文語(yǔ)言版本.
參照標準：
硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）及國標設計制造；GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針?lè )ā?
.適用范圍：
適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗和分析半導體材料質(zhì)量的工具；液晶顯示，自動(dòng)測量和系數補償，并帶有溫度補償功能，自動(dòng)轉換量程；采用芯片控制，恒流輸出，選配：PC軟件，保存和打印數據，生成報表
用于：覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類(lèi)箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導體材料、薄膜材料方阻測試等相關(guān)產(chǎn)品
規格型model | LST-331 |
1.方塊電阻范圍 | 10^-5～2×10^5Ω/□ |
2.電阻率范圍 | 10^-6～2×10^6Ω-cm |
測試電流范圍 | 0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA |
4.電流精度 | ±0.1% |
5.電阻精度 | ≤0.3% |
6.顯示讀數 | 液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率 |
7.測試方式 | 普通單電測量 |
8.工作電源 | 輸入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗：<30W |
9.誤差 | ≤4%（標準樣片結果） |
10.選購功能 | 選購1.pc軟件； 選購2.方形探頭； 選購3.直線(xiàn)形探頭； 選購4.測試平臺；5.標準電阻. |
11.測試探頭 | 探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針 |
12.標準電阻（選購） | 規格：1mΩ、10mΩ、100mΩ、1Ω、10Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ |
四探針?lè )阶桦娮杪蕼y試儀注意事項：
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