LJD-B介電常數介質(zhì)損耗測試儀

LJD-B介電常數介質(zhì)損耗測試儀

一、概述：

   介電常數介質(zhì)損耗測試儀作為新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前國內高的160MHz.介電常數介質(zhì)損耗測試儀儀采用了多項先進(jìn)技術(shù)：

雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動(dòng)調諧搜索功能。

雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過(guò)數字按鍵輸入。

雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧，數碼化電容調諧。

自動(dòng)化測量技術(shù) -對測試件實(shí)施 Q 值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測量。

全參數液晶顯示 – 數字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。

DDS 數字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的高、幅度的高穩定。

計算機自動(dòng)修正技術(shù)和測試回路優(yōu)化 —使測試回路 殘余電感減至低， Q 讀數值在不同頻率時(shí)要加以修正的困惑。

　　LJD-C介電常數及介質(zhì)損耗測試儀的創(chuàng )新設計，無(wú)疑為高頻元器件的阻抗測量提供了*的解決方案，它給從事高頻電子設計的工程師、科研人員、高校實(shí)驗室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測工具，測量值更為，測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點(diǎn)調諧電容值下檢測器件的品質(zhì)，無(wú)須關(guān)注量程和換算單位。

二、LJD-B介電常數介質(zhì)損耗測試儀主要技術(shù)特性：

Q 值測量范圍:       2 ～ 1023,量程分檔：30100﹑300﹑1000，自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔

固有誤差:≤ 5 ％ ± 滿(mǎn)度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）,≤6％ ± 滿(mǎn)度值的2％（10MHz～160MHz）

工作誤差:≤7％ ± 滿(mǎn)度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）,≤8％ ± 滿(mǎn)度值的2％（10MHz～160MHz）

電感測量范圍:       4.5nH ～ 140mH

電容直接測量范圍:   1 ～ 200pF

主電容調節范圍:     18 ～ 220pF

主電容調節準確度:   100pF 以下 ± 1pF;100pF 以上 ± 1 ％

信號源頻率覆蓋范圍:  100kHz ～ 160MHz

頻率分段 （ 虛擬 ）: 100 ～ 999.999kHz, 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz,100 ～ 160MHz

頻率指示誤差        :3 × 10 -5 ± 1 個(gè)字

三、夾具工作特性

1.平板電容器：

片尺寸：Φ50mm/Φ38mm   可選

片間距可調范圍：≥15mm

2. 夾具插頭間距：25mm±0.01mm

3. 夾具損耗正切值≤4×10－4 （1MHz）

4．測微桿分辨率：0.001mm

四、配置：

主機一臺

電感九支

夾具一套

隨機文件一套

我公司所有產(chǎn)品質(zhì)保三年終身維修，請放心購買(mǎi)。