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  • LJD-C介電損耗測試儀
    LJD-C介電損耗測試儀

    介電損耗測試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器,測試頻率上限達到目前國內Z高的160MHz.LJD-C介電常數測試儀采用了多項*技術(shù): 雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動(dòng)調諧搜索功能。 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過(guò)數字按鍵輸入。 雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧,數碼化電容調諧。

    更新日期:2024-07-07型號:LJD-C訪(fǎng)問(wèn)量:890
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  • LJD-C介質(zhì)損耗測定機
    LJD-C介質(zhì)損耗測定機

    介質(zhì)損耗測定機作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器,測試頻率上限達到目前國內Z高的160MHz.LJD-C介電常數測試儀采用了多項*技術(shù): 雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動(dòng)調諧搜索功能。 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過(guò)數字按鍵輸入。 雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧,數碼化電容調諧。

    更新日期:2024-07-07型號:LJD-C訪(fǎng)問(wèn)量:824
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  • LJD-C介質(zhì)損耗試驗機
    LJD-C介質(zhì)損耗試驗機

    介質(zhì)損耗試驗機作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器,測試頻率上限達到目前國內Z高的160MHz.LJD-C介電常數測試儀采用了多項*技術(shù): 雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動(dòng)調諧搜索功能。 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過(guò)數字按鍵輸入。 雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧,數碼化電容調諧。

    更新日期:2024-07-07型號:LJD-C訪(fǎng)問(wèn)量:824
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  • LJD-C介質(zhì)損耗試驗儀
    LJD-C介質(zhì)損耗試驗儀

    介質(zhì)損耗試驗儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器,測試頻率上限達到目前國內Z高的160MHz.LJD-C介電常數測試儀采用了多項*技術(shù): 雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動(dòng)調諧搜索功能。 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過(guò)數字按鍵輸入。 雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧,數碼化電容調諧。

    更新日期:2024-07-07型號:LJD-C訪(fǎng)問(wèn)量:827
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  • LJD-C介質(zhì)損耗測量?jì)x
    LJD-C介質(zhì)損耗測量?jì)x

    介質(zhì)損耗測量?jì)x作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器,測試頻率上限達到目前國內Z高的160MHz.LJD-C介電常數測試儀采用了多項*技術(shù): 雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動(dòng)調諧搜索功能。 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過(guò)數字按鍵輸入。 雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧,數碼化電容調諧。

    更新日期:2024-07-07型號:LJD-C訪(fǎng)問(wèn)量:900
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  • LJD-C介質(zhì)損耗測定儀
    LJD-C介質(zhì)損耗測定儀

    介質(zhì)損耗測定儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器,測試頻率上限達到目前國內Z高的160MHz.LJD-C介電常數測試儀采用了多項*技術(shù): 雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動(dòng)調諧搜索功能。 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過(guò)數字按鍵輸入。 雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧,數碼化電容調諧。

    更新日期:2024-07-07型號:LJD-C訪(fǎng)問(wèn)量:850
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  • LJD-C介質(zhì)損耗測試儀
    LJD-C介質(zhì)損耗測試儀

    介質(zhì)損耗測試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器,測試頻率上限達到目前國內Z高的160MHz.LJD-C介電常數測試儀采用了多項*技術(shù): 雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動(dòng)調諧搜索功能。 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過(guò)數字按鍵輸入。 雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧,數碼化電容調諧。

    更新日期:2024-07-07型號:LJD-C訪(fǎng)問(wèn)量:948
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  • LJD-B  LJD-C介電常數及介質(zhì)損耗測試儀
    LJD-B LJD-C介電常數及介質(zhì)損耗測試儀

    介電常數及介質(zhì)損耗測試儀是我公司*研制生產(chǎn)的產(chǎn)品,自該產(chǎn)品實(shí)現銷(xiāo)售后,我公司工程師就一直持續不斷對產(chǎn)品改進(jìn)升級;特別是在軟件上不斷地加以完善,改進(jìn)了早期產(chǎn)品存在的不足之處,提高了測試精度,并增加新的功能。

    更新日期:2024-07-07型號:LJD-B LJD-C訪(fǎng)問(wèn)量:1027
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