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  • LJD-C介電常數介質(zhì)損耗試驗裝置
    LJD-C介電常數介質(zhì)損耗試驗裝置

    介電常數介質(zhì)損耗試驗裝置采用了多項先進(jìn)技術(shù): 雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動(dòng)調諧搜索功能。 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過(guò)數字按鍵輸入。 雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧,數碼化電容調諧。 自動(dòng)化測量技術(shù) -對測試件實(shí)施 Q 值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測量。

    更新日期:2024-07-06型號:LJD-C訪(fǎng)問(wèn)量:970
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  • LJD-C介電常數介質(zhì)損耗試驗機
    LJD-C介電常數介質(zhì)損耗試驗機

    介電常數介質(zhì)損耗試驗機采用了多項先進(jìn)技術(shù): 雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動(dòng)調諧搜索功能。 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過(guò)數字按鍵輸入。 雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧,數碼化電容調諧。 自動(dòng)化測量技術(shù) -對測試件實(shí)施 Q 值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測量。

    更新日期:2024-07-06型號:LJD-C訪(fǎng)問(wèn)量:891
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  • LJD-C介電常數介質(zhì)損耗試驗儀
    LJD-C介電常數介質(zhì)損耗試驗儀

    介電常數介質(zhì)損耗試驗儀采用了多項先進(jìn)技術(shù): 雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動(dòng)調諧搜索功能。 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過(guò)數字按鍵輸入。 雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧,數碼化電容調諧。 自動(dòng)化測量技術(shù) -對測試件實(shí)施 Q 值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測量。

    更新日期:2024-07-06型號:LJD-C訪(fǎng)問(wèn)量:880
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  • LJD-C介電常數介質(zhì)損耗測量裝置
    LJD-C介電常數介質(zhì)損耗測量裝置

    介電常數介質(zhì)損耗測量裝置采用了多項先進(jìn)技術(shù): 雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動(dòng)調諧搜索功能。 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過(guò)數字按鍵輸入。 雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧,數碼化電容調諧。 自動(dòng)化測量技術(shù) -對測試件實(shí)施 Q 值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測量。

    更新日期:2024-07-06型號:LJD-C訪(fǎng)問(wèn)量:816
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  • LJD-C介電常數介質(zhì)損耗測定機
    LJD-C介電常數介質(zhì)損耗測定機

    介電常數介質(zhì)損耗測定機采用了多項先進(jìn)技術(shù): 雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動(dòng)調諧搜索功能。 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過(guò)數字按鍵輸入。 雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧,數碼化電容調諧。 自動(dòng)化測量技術(shù) -對測試件實(shí)施 Q 值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測量。

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  • LJD-C介電常數介質(zhì)損耗測定儀
    LJD-C介電常數介質(zhì)損耗測定儀

    介電常數介質(zhì)損耗測定儀采用了多項先進(jìn)技術(shù): 雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動(dòng)調諧搜索功能。 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過(guò)數字按鍵輸入。 雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧,數碼化電容調諧。 自動(dòng)化測量技術(shù) -對測試件實(shí)施 Q 值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測量。

    更新日期:2024-07-06型號:LJD-C訪(fǎng)問(wèn)量:886
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  • LJD-C介電常數介質(zhì)損耗測試儀
    LJD-C介電常數介質(zhì)損耗測試儀

    介電常數介質(zhì)損耗測試儀儀采用了多項先進(jìn)技術(shù): 雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動(dòng)調諧搜索功能。 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過(guò)數字按鍵輸入。 雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧,數碼化電容調諧。 自動(dòng)化測量技術(shù) -對測試件實(shí)施 Q 值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測量。

    更新日期:2024-07-06型號:LJD-C訪(fǎng)問(wèn)量:953
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  • LJD-C介電常數介質(zhì)損耗測量?jì)x
    LJD-C介電常數介質(zhì)損耗測量?jì)x

    介電常數介質(zhì)損耗測量?jì)x采用了多項先進(jìn)技術(shù): 雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動(dòng)調諧搜索功能。 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過(guò)數字按鍵輸入。 雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧,數碼化電容調諧。 自動(dòng)化測量技術(shù) -對測試件實(shí)施 Q 值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測量。

    更新日期:2024-07-06型號:LJD-C訪(fǎng)問(wèn)量:918
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